| HALT（高加速壽命測試）：Highly Accelerated Life Test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計缺陷的工序，它通過設(shè)置逐級遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設(shè)計、工藝和用料等諸方面進行分析和改進，從而達到提升可靠性的目的，最大的特點是設(shè)置高于樣品設(shè)計運行限的環(huán)境應(yīng)力，從而從暴露故障的時間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時間。 HASS（高加速應(yīng)力篩選）：Highly Accelerated Stress Screen是產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應(yīng)力篩選。要求100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱患的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷,HASS就是通過加速應(yīng)力以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品。 HASA（高加速應(yīng)力抽檢篩選）：Highly Accelerated Stress Audit是一種在產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段使用抽樣理論的篩選試驗方法。它可以防止有缺陷的產(chǎn)品交付到客戶的手中。 HALT/HASS/HASA 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法，它將原需花費6 個月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS/HASA 的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限，以及潛在弱點的實驗方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容： a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障；
b、采取臨時措施，修正產(chǎn)品的失效或故障；
c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正；
d、重復以上應(yīng)力-失效-修正的步驟；
e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。HASS/HASA應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進措施能夠得到實施。HASS/HASA 包含如下內(nèi)容： a、進行預篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷；
b、進行探測篩選、找出明顯缺陷；
c、故障分析；改進措施。 | 
